描述：鎢燈絲掃描電鏡 SEM3300是全新一代鎢燈絲掃描電子顯微鏡，分辨率優於2.5nm。特殊的電子光路設計，突破鎢燈絲分辨率極限，在低電壓 1 kV 下，達到 5 nm 的分辨率。擁有出色的成像質量、在不同的視場範圍下均可得到高分辨率圖像。大景深，成像富有立體感。豐富的擴展性，助您在顯微成像的世界中盡情探索。
鉛鋅礦
加速電壓：20 kV / 放大倍率：X200
鐵礦石粉末
加速電壓：15 kV / 放大倍率：X500
球形石墨表麵
加速電壓：3 kV / 放大倍率：X5000
三元前驅體2
加速電壓：15 kV / 放大倍率：X20000
磁電材料
加速電壓：15 kV / 放大倍率：X5000
芯片
加速電壓：15 kV / 放大倍率：X1000
高分子微球
加速電壓：5 kV / 放大倍率：X2000
靜電紡絲
加速電壓：5 kV / 放大倍率：X10000
| 電子光學係統 | 電子槍類型 | 預對中型發叉式鎢燈絲電子槍 |
| 分辨率 | 2.5 nm @ 20 kV | |
| 4 nm @ 3 kV | ||
| 5 nm @ 1 kV | ||
| 放大倍率 | 1 x～300,000 x | |
| 加速電壓 | 0.1 kV～30 kV | |
| 成像係統 | 探測器 | 二次電子探測器（ETD）、鏡筒內電子探測器 |
| *背散射電子探測器、*能譜儀EDS等 | ||
| 圖像保存格式 | TIFF、JPG、BMP、PNG | |
| 真空係統 | 真空模式 | 優於5×10-4 Pa |
| 控製方式 | 全自動控製 | |
| 樣品室 | 攝像頭 | 光學導航 |
| 樣品倉內監控 | ||
| 樣品台配置 | 五軸自動 | |
| 軟件 | 語言 | 中文 |
| 操作係統 | Windows | |
| 導航 | 光學導航、手勢快捷導航 | |
| 自動功能 | 自動亮度對比度、自動聚焦、自動像散 |
