描述：德國蔡司 ZEISS O-INSPECT 光學測量係統配備了一套多功能的照明係統。迴然不同的形狀、紋理和表麵顏色可采取不同入射角的方式，讓邊緣顯得清晰可見。
出色的光學器件
視野範圍大良好的圖像質量
德國蔡司 ZEISS O-INSPECT 光學測量係統來源於蔡司顯微鏡解決方率技術。與常規鏡頭相比，此鏡頭提供四倍更大觀察視野，使鏡頭周邊區域亦可確保出色的圖像質量。優點:減少測量時間並具有穩定的精度。
更優對比度ZEISS O-INSPECT照明係統
為了獲得精確的測量結果，需要高對比度的圖像。為此，德國蔡司 ZEISS O-INSPECT 光學測量係統配備了一套多功能的照明係統。迴然不同的形狀、紋理和表麵顏色可采取不同入射角的方式，讓邊緣顯得清晰可見。
白光
蔡司Dotscan白光探頭可對工件進行非接觸式掃描。用於測量敏感、具反射性或低對比度的表麵，這類表麵難以使用其它光學探頭進行測顯。
